色差儀SCI和SCE模式有什么區(qū)別

色差儀通常有兩種測量模式，分別是SCI和SCE兩種，在早前這兩種測量模式只能選擇其中一種鏡向測量，但隨著技術(shù)的進步，第三代色差儀已經(jīng)可以同時使用兩種模式進行測量。那么，色差儀SCI和SCE模式有什么區(qū)別呢？

什么是SCI測量模式？

SCI（英文Specular Component Include），包含鏡面正反射光，是指包含鏡面反射光測量顏色的方法。采用包含鏡面反射光SCI模式，其測量結(jié)果完全包括物體的所有表面反射光（包括鏡面正反射和漫反射），因此其結(jié)果能夠客觀的表示物體的外表顏色，與物體表面的結(jié)構(gòu)、粗糙程度無關(guān)，在電腦配色、測色方面應(yīng)用廣泛。物體的光亮程度，也不會影響顏色數(shù)據(jù)的測量結(jié)果。也就是說SCI模式包含了所有物體反射出來的所有光線，測量的結(jié)果能真實顯示物體真實顏色性質(zhì)，符合表面顏色三要素（光源，物體，觀察者）的定義。

色差儀測量模式SCI

什么是SCE測量模式？

SCE（英文Specular Component Exclude），排除鏡面正反射光，SCE是指排除鏡面反射光的測量顏色的方法。消除鏡面反射光SCE方式，其測量所得到的結(jié)果，顯示的是人眼真實看到的顏色。人眼視覺系統(tǒng)在觀察物體時，在多數(shù)條件下接收的信息，為物體的漫反射光，而不注重鏡面反射。如果有反射光直接射到你眼睛里，只會照射到你的眼睛而睜不開眼，因此這種模式下人是看不到物體顏色的。由于濾去了鏡面反射光線，表面色三要素（光源，物體，觀察者）中的物體性質(zhì)不能真實地反映，所以計算出來的結(jié)果跟SCI模式有所不同。而且受物體表面的結(jié)構(gòu)、粗糙程度影響非常大。因為物體表面性質(zhì)會影響反射光線，通過光阱濾去正反射光。

色差儀SCI模式和SCE模式的區(qū)別有哪些？

⑴、SCI模式和SCE模式主要是應(yīng)用場景不同，由于SCI和SCE測量模式的不同，而導(dǎo)致兩者的應(yīng)用場景不同。SCE模式比較符合人眼看到的顏色，所以SCE方式適用于檢驗生產(chǎn)線上，樣品是否符合視覺顏色標準，也就是用于檢測終端產(chǎn)品是否顏色一致。SCI方式因為能真實反映物體的性質(zhì)，非常適用于物體顏色研究，和利用計算機配色系統(tǒng)（CCM）調(diào)整色母粒到生產(chǎn)需要水平。

⑵、測量數(shù)據(jù)不同。SCI因為包含鏡面反射和漫反射，在同樣光源下（或測色儀），所反射出來的光（反射、漫射）的總和，必然比SCE模式下反射的光（只有漫反射）要多，所以說SCI模式下的數(shù)據(jù)必然比SCE的大。所以要談?wù)擃伾牟顒e時，記住測量模式務(wù)必要一致，同樣采用SCI模式，或者同樣采用SCE模式。

色差寶測量模式是怎么調(diào)的？

色差寶是第三代色差儀，其可以通過傳統(tǒng)的設(shè)置機械光阱的方式，實現(xiàn)SCI/SCE測試模式切換，電機帶動撥片擋住機械光阱則為SCl測量模式，撥片打開則為SCE測量模式?？蛻舾鶕?jù)測量產(chǎn)品的需要可設(shè)置測量模式為:SCI、SCE或I+E，I+E即SCI+SCE模式。如果當前儀器測量模式為SCI(工作狀態(tài)區(qū)顯示為SCI)，則儀器僅僅測試樣品SCI數(shù)據(jù)，如果將顯示模式設(shè)置為SCE，由于沒有測試SCE數(shù)據(jù)，各對應(yīng)色度數(shù)據(jù)顯示為，光譜數(shù)據(jù)、顏色指數(shù)也將無顯示。

只有了解了什么是色差儀測量模式，色差儀SCI和SCE模式有什么區(qū)別，才能夠在使用色差儀測量之前，正確的選擇符合自己需求的測量模式，從而可以讓色差寶色差儀在測量時，正確的得到測量數(shù)據(jù)值。